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通信用光電子器件溫度循環(huán)試驗

健明迪檢測提供的通信用光電子器件溫度循環(huán)試驗,通信用光電子器件溫度循環(huán)試驗 試驗范圍 1、有源器件:有源器件包括光源、光檢測器和光放大器,這些器件是光發(fā)射機、光接收機和光中繼器的關(guān)鍵器件,具有CMA,CNAS資質(zhì)。
通信用光電子器件溫度循環(huán)試驗

通信用光電子器件溫度循環(huán)試驗 試驗范圍

1、有源器件:有源器件包括光源、光檢測器和光放大器,這些器件是光發(fā)射機、光接收機和光中繼器的關(guān)鍵器件,和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統(tǒng)的水平。
2、光無源器件:光無源器件主要有連接器、光纖準直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開關(guān)、光濾波器、光衰減器等。

通信用光電子器件溫度循環(huán)試驗 試驗標準

GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗方法
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法  第25部分:溫度循環(huán)
GB/T 15972.52 光纖試驗方法規(guī)范第52部分:環(huán)境性能的測量方法和試驗程序  溫度循環(huán)
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗?zāi)芰?,為通信用光電子器件提供專業(yè)的機械沖擊試驗服務(wù)。

通信用光電子器件溫度循環(huán)試驗 試驗背景

溫度循環(huán)對于電子元器件來說是一種環(huán)境應(yīng)力測試,此外溫度循環(huán)還會加速電子管元件的老化。溫度循環(huán)加速老化的目的一般不是引起特定性能參數(shù)的退化,而是為封裝在組件中的光路的長期機械穩(wěn)定性提供額外的附加說明。
通信用光電子器件溫度循環(huán)試驗可確定光電子器件承受高溫和低溫的能力,以及高溫和低溫交替變化對光電子器件的影響,保證光電子器件封裝內(nèi)部的光路長期機械穩(wěn)定性。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗?zāi)芰?,為通信用光電子器件提供專業(yè)的機械沖擊試驗服務(wù)。

通信用光電子器件溫度循環(huán)試驗 試驗方法

按以下程序進行試驗:
a)試驗前對試樣的主要光電特性進行測試;
b)將試樣放置在試驗箱內(nèi),其位置不應(yīng)妨礙試樣周圍空氣的流動;
c)試樣在規(guī)定條件下連續(xù)完成規(guī)定的循環(huán)次數(shù);
d)完成規(guī)定的循環(huán)后,把試樣從試驗箱移出放置24 h,使之達到標準測試條件后進行光電特性測試。
由于電源或設(shè)備故障原因,允許中斷試驗。如果中斷的循環(huán)次數(shù)超過規(guī)定循環(huán)的總次數(shù)的10%時,不管任何理由,試驗應(yīng)重新從頭開始進行。
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